Descrizione generale

Il sistema inVia di Renishaw è uno spettrometro Raman confocale integrato con un microscopio ottico Leica. Consente misure micro Raman ad alta risoluzione spaziale (fino a sub micron), e può essere configurato per eseguire anche test di fotoluminescenza (PL) sullo stesso campione.
È un sistema molto flessibile, ampiamente usato per caratterizzare materiali organici e inorganici, semiconduttori, nanomateriali, polimeri e molto altro.

Caratteristiche tecniche principali

Ottico e Microscopio
• Confocal Raman microscopio con ottiche ad alte prestazioni integrate a un microscopio Leica (per immagini ottiche e posizionamento campione).
• Obiettivi tipici: 5X, 20×, 50×, 50× LWD, 100× (long working distance e standard) per ingrandimenti diversi e profondità di campo variabile.

Sorgenti laser

• Supporta più linee laser:
~ 514 nm (laser Argon)
~ 632.8 nm (He Ne)
Ciò permette di ottimizzare lo scattering Raman o l’eccitazione per PL a seconda del materiale analizzato.

Vantaggi della tecnica

1. Spettroscopia vibrazionale: permette l’identificazione del materiale che costituisce il campione;
2. E’ una tecnica analitica non distruttiva per definizione e permette l’analisi di campioni tal quali anche di grandi dimensioni;
3. l’acquisizione dello spettro è relativamente rapido;
4. Essendo abbinato ad un microscopio ottico, l’analisi viene effettuata in confocale dove il microscopio ottico (con ingrandimenti fino al 100x) effettua la messa a fuoco;
5. l’ultima generazione di spettrofotometri Raman permette l’acquisizione di mappe